Dino Lite Digitale microscoop Digitale vergroting (max.): 220 x kopen ? Conrad Electronic

Digitale microscoop 'Dino-Lite Edge' met kunststof behuizing en kabel, geschikt voor gedetailleerde observatie en vergroting van objecten.

Datasheet (PDF)

Leverbaar ma. 21 sep.

Nieuw

Alle facturen van derden komen nu rechtstreeks van Conrad.

Aantal

Stuk(s)

Totaal (€ 1.023,97 / Stuk)

€ 1.023,97

excl. btw

Gratis verzending*

Inclusief 14 dagen retourrecht

Juridisch probleem melden

Highlights & Details

Digitale microscoop EDGE AM7515MZT

5 megapixel edge sensor
Verwisselbare frontkap
Software voor Windows

Technische specificaties

Vergroting: 20 - 220x
Kabellengte: 1.8 m.

Soortnaam: Digitale microscoop

Digitale vergroting (max.): 220 x

: 105 mm

Gewicht: 125 g

Type: AM7515MZT

Type: LED

Werkafstand (max.): 60.2 mm

Werkafstand (min.): 11.9 mm

Voedingsspanning: USB

Documenten en downloads

Datablad

Datablad 1642364 Dino Lite Digitale microscoop Digitale vergroting (max.): 220 x

Gebruiksaanwijzingen en veiligheidsinformatie

Gebruiksaanwijzingen en veiligheidsinformatie 1642364 Dino Lite Digitale microscoop Digitale vergroting (max.): 220 x

Omschrijving

Met het gebruik van de nieuwste, innovatieve optiek, een compleet nieuwe sensor met 5 megapixels en meerdere speciale functies zoals Flexible LED Control (FLC), Automatic Magnification Reading (AMR) en aluminium behuizing is de Dino-Lite AM7515MZT een wonder van de techniek en de beste keuze voor veeleisende professionals. De Dino-Lite AM7515MZT biedt uitstekende beeldkwaliteit en kleurweergave in een robuuste, compacte en aantrekkelijke behuizing. De AM7515MZT maakt deel uit van de Dino-Lite Universal-serie en is met zijn standaardwerkafstand en een groot vergrotingsbereik van 20 - 220x geschikt voor een groot aantal toepassingen. Het geïntegreerde polarisatiefilter maakt dit model ideaal bij het werken met glanzende of reflecterende objecten, zoals metaal, kunststof, glas, sieraden, elektronica, enzovoort. De AMR-functionaliteit is van bijzonder belang wanneer de meetfuncties vaak worden gebruikt.